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標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)? 3600

小角 X 射線散射絕對強(qiáng)度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

本標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) (SRM) 旨在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強(qiáng)度校準(zhǔn)。 SAXS 測量表征了異質(zhì)材料系統(tǒng)的微觀結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)：特別是微米級和納米級特征的尺寸分布，以及散射強(qiáng)度校準(zhǔn)，它們的體積分?jǐn)?shù)或數(shù)量濃度，以及它們的表面積 [1]。 SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

NIST SRM 3600小角度X射線散射強(qiáng)度校準(zhǔn)（標(biāo)準(zhǔn)品）

認(rèn)證值：

認(rèn)證值是絕對 X 射線散射強(qiáng)度，以每單位玻璃碳樣品體積的 X 射線微分散射截面 dΣ/dΩ 與散射矢量的幅度 Q 的關(guān)系給出.圖 1 顯示了超小角 X 射線散射 (USAXS) 儀器的示意圖，該儀器是用于測量經(jīng)認(rèn)證的 X 射線散射強(qiáng)度值的主要儀器。經(jīng)認(rèn)證的 dΣ/dΩ 值列于表 1 中經(jīng)認(rèn)證的 Q 范圍為 0.008 ?–1 至 0.25 ?–1，并繪制在圖 2 中。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮 [2]。認(rèn)證值基于在環(huán)境條件下進(jìn)行的測量。

參考值： 

dΣ/dΩ 與 Q 的基于小角中子散射 (SANS) 的值，針對 SAXS 重新縮放，在表 2 中提供并繪制在圖 3 中。測量的 SANS 散射強(qiáng)度已使用 SAXS 的比率重新縮放X 射線和中子散射對比因子，基于碳原子的 X 射線和中子散射特性的可追溯表 [3,4]。參考值是未經(jīng)認(rèn)證的值，代表基于可用數(shù)據(jù)的真實值的最佳估計；但是，這些值不符合 NIST 的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，這些不確定性可能僅反映測量再現(xiàn)性，可能不包括所有不確定性來源，或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的統(tǒng)計一致性 [2]。

NIST SRM 3600小角度X射線散射強(qiáng)度校準(zhǔn)（標(biāo)準(zhǔn)品）

信息值：

 SRM 3600 試樣的平均厚度是 1.055 毫米 ± 0.025 毫米，基于對 56 個試樣中的每一個進(jìn)行兩次獨立的微米厚度測量。與數(shù)值一起列出的不確定性是覆蓋因子 k = 2 的擴(kuò)展不確定性，對應(yīng)于 95% 的置信區(qū)間，預(yù)期單個試樣，并且來自重復(fù)測量的標(biāo)準(zhǔn)偏差。信息值被認(rèn)為是可能對 SRM 用戶有用的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性或僅是有限的